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          首頁 > 產品中心 > 激光共聚焦顯微鏡 > NS3500 H > NS3500 H 大面積高速三維成像掃描系統

          NS3500 H 大面積高速三維成像掃描系統

          簡要描述:NS-3500是一種可靠的三維掃描系統。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構,可以為半導體晶片,FPD產品,MEMS設備,玻璃基板,材料表面等提供各種解決方案。

          • 產品型號:
          • 廠商性質:代理商
          • 更新時間:2021-08-18
          • 訪  問  量:1095

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          詳細介紹

          品牌其他品牌價格區間面議
          產地類別進口應用領域能源,電子,冶金,航天,汽車
          激光405nm

          NS-3500H 是一種準確、可靠的三維(3D)掃描系統,通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構,可以為半導體晶片,FPD產品,MEMS設備,玻璃基板,材料表面等提供各種解決方案。

          Features & Benefits(性能及優勢):

          • 高分辨無損傷光學3D測量                               自動傾斜補償

          • 實時共焦成像                                                 簡單的數據分析模式

          • 多種光學變焦                                                 雙Z掃描

            大范圍拼接                                                    半透明基材的特征檢測

          • 實時CCD明場和共聚焦成像                            無樣品準備


          Application field(應用領域):

          NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。

          可測量微米和亞微米結構的高度,寬度,角度,面積和體積,例如

          -半導體:IC圖形,凹凸高度,線圈高度,缺陷檢測,CMP工藝

          - FPD產品:觸摸屏屏幕檢測,ITO圖案,LCD柱間距高度

          - MEMS器件:結構三維輪廓,表面粗糙度,MEMS圖形

          -玻璃表面:薄膜太陽能電池,太陽能電池紋理,激光圖案

          -材料研究:模具表面檢測,粗糙度,裂紋分析

          Dimension(尺寸):

          Specification(規格):


          ?Model

          Microscope  NS-3500

          備注


                               NS-3500E

          物鏡倍率

          10x

          20x

          50x

          100x

          150x


          觀察/  測量范圍  

          水平 (H): μm

          1400

          700

          280

          140

          93


          垂直 (V): μm

          1050

          525

          210

          105

          70


          工作范圍: mm

          16.5

          3.1

          0.54

          0.3

          0.2


          數值孔徑(N.A.)

          0.30

          0.46

          0.80

          0.95

          0.95


          光學變焦

          x1 to x6


          總放大倍率

          178x to 26700x


          觀察/測量光學系統  

          Pinhole共聚焦光學系統


          高度測量

          測量掃描

          長掃描 : 10 mm


          顯示分辨率

          0.001 μm


          重復率 σ

          0.010 μm

          注 1

          寬度測量

          顯示分辨率

          0.001 μm


          重復率 3σ

          0.02 μm

          注 2

          幀記憶

          像素

          1024x1024, 1024x768, 1024x384,   1024x192, 1024x96


          單色圖像

          12 bit


          彩色圖像

          8-bit for RGB each


          高度測量

          16 bit


          幀速率

          表面掃描

          20 Hz to 160 Hz


          線掃描

          ~8 kHz


          自動功能

          自動增益


          激光共焦測量光源

          波長

          405nm


          輸出

          ~2mW


          激光等級

          Class 3b


          激光接收元件

          PMT (光電倍增管)


          光學觀察光源

          10W LED


          光學觀察照相機

          成像元件

          1/2" 彩色圖像 CCD 傳感器


          記錄分辨率

          640x480


          自動調整

          增益, 快門速度, White balance


          數據處理單元

          PC


          電源

          電源電壓

          100 to 240 VAC, 50/60 Hz


          電流消耗

          500 VA max.


          重量

          顯微鏡

          Approx. ~200 kg

          (Measuring head unit : ~12 kg)


          控制器

          ~8 kg


          注1 :以100×/ 0.95物鏡對標準樣品(步長1μm)進行100次測量                                                                    

          注 2 :以100×/ 0.95物鏡對標準樣品(5μm間距)進行100次測量。


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